IP-телефоны М И Ф И (кафедра 70)
М И Ф И НАШИ КООРДИНАТЫ

ЛАБОРАТОРИЯ ФИЗИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ И МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЯ ИХ СВОЙСТВ

Состав научной группы:
С.н.с., к.ф.-м.н.
Зуев В.В.
м.н.с. Григорьев В.В.
м.н.с. Зуев А.В.
м.н.с. Королев Н.А.

На кафедре " Физики твердого тела и Наносистем" проводятся исследования явлений взаимодействия нанообразований (примесных атомов и их кластеров) в реальном кремнии при различных взаимодействиях: термическом, световом, ионизационном; при возмущении системы собственных дефектов в пространстве кристалла за счет изменения условий их возникновения на границе. Изменение при взаимодействии строения и состава нанообразований из примесных атомов и собственных дефектов отражается на спектре электронных состояний в запрещенной зоне, что приводит к изменению макроскопических параметров: удельного сопротивления и времен жизни основных и неосновных носителей, величины которых очень важны как для целей микроэлектроники, так и при создании приемников излучений различной природы и диапазонов и для силовой полупроводниковой электроники. Изменение внутренних силовых полей в реальном кристалле, которое сопровождает взаимодействие нанообразований, способно позволить управлять степенью термостабильности и, возможно, радиационной стойкости материала по основным электрофизическим параметрам в определенном интервале температур и доз.

Как было установлено, проявление изменений внутренних силовых полей нанообразований при термическом воздействии возможно при организации системы опытов, включающей в себя совокупность предварительных термообработок с различными температурами и длительностями и диффузию примеси, способной к связыванию свободного электрона при комнатной температуре, с различными режимами охлаждения после высокотемпературных процессов диффузии.

При проведении исследований используются различные физические методы определения параметров электронных состояний и их изменений после внешних воздействий: традиционные электрофизические с использованием электрических, магнитных полей и электромагнитных излучений различного диапазона и степени упорядоточенности в пространстве и во времени; методики термостимулированных токов с применением современных машинных методов обработки экспериментальных данных; отрабатываются модифицированные методы фотодефлекционной спектроскопии для определения тепловых характеристик и метод счета фотонов для регистрации малых интенсивностей излучения; используется техника низких температур и др..

Часть технологических задач решается совместно с сотрудниками кафедры " Микроэлектроника " НИЯУ МИФИ.

WEB-МАСТЕРУ